Unifesspa adquire moderno equipamento para identificação mineralógica

Difratômetro de Raios-X - Miniflex 600 foi importado do fabricante japonês Rigaku Corporation. Difratômetro ajuda na identificação mineralógica de diversos tipos de materiais naturais e manufaturados. Unifesspa é a única universidade do norte do País a tertal equipamento. Treinamento com o equipamento acontece no próximo dia29 de outubro.

A Universidade Federal do Sul e Sudeste do Pará (Unifesspa) adquiriu o Difratômetro de Raios-X, Miniflex 600, da marca Rigaku, para ampliar os equipamentos disponíveis no IGE (Instituto de Geociências e Engenharias), para suas aulas teóricas e práticas.
O Difratômetro “é um equipamento moderno, de elevada potência (600 W) e grande praticidade, pois pode ser montado em uma simples bancada e a partir dela ser operacionalizado”, define o diretor do IGE, professor doutor Elias Fagury Neto.
O equipamento permanente foi adquirido por R$ 300.600,00 (Trezentos mil e seiscentos reais) para infraestrutura de ensino e pesquisa do Instituto de Geociências e Engenharias da Universidade Federal do Sul e Sudeste do Pará (IGE/Unifesspa), no Campus 2 (Folha 17, Quadra 04, Lote Especial, Nova Marabá, Marabá).
O equipamento foi instalado no IGE/Unifesspa nos últimos dias. Para a instalação do Diafratômetro de Raios-X foi necessária à adaptação da estrutura física do laboratório com a construção de suporte para a bancada, em madeira e granito, e o cumprimento de outras exigências técnicas do fabricante e do instalador.

Técnica eficiente

A técnica de difração de raios-X é um dos mais avançados e eficientes procedimentos de análises químicas disponíveis atualmente no mercado. A partir do padrão de difração da radiação –- único para cada estrutura cristalina, é possível realizar a identificação das substâncias químicas sólidas cristalinas, criando-se uma espécie de impressão digital das amostras.
Ao contrário das demais técnicas utilizadas pelos laboratórios, a difratometria de raios-X permite, através da medição dos ângulos de difração, diferenciar, caracterizar e quantificar substâncias que apresentam mesma fórmula química, porém, estruturas cristalinas diferentes, como, por exemplo, o Quartzo e a Cristobalita (ambos com a fórmula química SiO2).
Com o equipamento é possível realizar: cálculos de cristalinidade e tamanho de partícula de materiais; identificação de minerais; identificação de fases; classificação de amostras desconhecidas; avaliação cristalográfica; caracterização de minérios e mineralogias de processos de beneficiamento; pesquisa em commodities; pesquisa e identificação de parâmetros da estrutura cristalina; análise de amostras ambientais (poeira e resíduos); análise de materiais coletados em filtros; e diferenciação entre estruturas análogas de fármacos.
Fagury Neto informou que o novo equipamento ajuda a dar mais estrutura na identificação mineralógica, tais como rochas, minérios, materiais metálicos e cerâmicos, cristalinos e amorfos, “para avaliação da composição de fases destes materiais, bastante útil em ações de identificação de jazidas de materiais, adequação e controle de qualidade de produtos manufaturados na indústria, bem como na pesquisa de base, síntese de novos materiais e compostos, avaliação da cristalinidade de vidros especiais usados em pesquisa na área de física, da matéria condensada, entre outras aplicações”.
Segundo Fagury Neto, “essa técnica é bastante usada, por exemplo, na indústria de mineração para identificação da composição dos minérios extraídos das minas, para que se possa avaliar a qualidade e mensurar os processos de separação e concentração”.

Pós-graduação

O Difratômetro de Raios-X faz parte da estratégia do IGE em dar maior infraestrutura ao instituto e modernizar seu laboratório para a implantação de um programa de pós-graduação na área de Recursos Minerais e Novos Materiais, proposta a ser apresentada junto a Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES), brevemente. “Esperamos iniciar o programa em 2016”, informa Fagury Neto.
Além do novo Difratômetro de raios-X da marca Rigaku, o IGE conta com outros equipamentos como: Analisador térmico (ATD/TG – Shimadzu); Microscópio Eletrônico de Varredura (MEC Carl Zeiss); Microscópio Eletrônico de Varredura de Bancada (Toshiba), Analisador por Catodoluminescência acoplado a Microscópio Ótico (Leica) e Espectrômetro de Absorção Atômica.

Compra de similar

A Universidade Federal de São João Del-Rei, localizada em São João Del-Rei (MG), adquiriu um equipamento similar em30 de julhode 2014. Com a aquisição do Diafratômetro de Raios-X, modelo miniflex 600, da marca Rigaku, a Unifesspa é a única atero equipamento entre as universidades desta região do País. Segundo Fagury Neto, “não temos informação sobre a presença deste equipamento em outra universidade na região Norte”. O fabricante informou a Fagury Neto que “diversos equipamentos desta natureza estão em funcionamento nas principais universidades brasileiras”.

Treinamento com o equipamento

O Programa de Mestrado Nacional Profissional em Ensino de Física (PMNPEF/Unifesspa) realizará o minicurso “Difratometria de Raios X: Fundamentos e Aplicações” com o Professor Doutor Rogério Machado (http://lattes.cnpq.br/9416163413144577) do Departamento de Física da Universidade Federal de Sergipe (UFS).
O minicurso será ministrado na Sala 11 (Prédio da Engenharia de Minas e Meio Ambiente) do Campus 2, das 8 às 12 h e das 14 às 18 h horas em único dia,29 de outubropróximo. O evento é gratuito, aberto a toda a comunidade acadêmica e será emitido certificado de participação de oito horas. “Em virtude da capacidade da sala de aula que comporta 40 pessoas e para um melhor acompanhamento, iremos priorizar a participação de docentes/pesquisadores e alunos de pós-graduação”, informa José Elisandro.
Para se inscrever é necessário preencher a "Ficha de Inscrição - Minicurso DRX", possuir currículo cadastrado na Plataforma Lattes e enviar impreterivelmente até o dia 23 do corrente mês a ficha de inscrição paraEste endereço de email está sendo protegido de spambots. Você precisa do JavaScript ativado para vê-lo..Será enviada uma confirmação de inscrição e no dia 26/10 será feita a divulgação das inscrições contempladas e as demais instruções.

Palestrante

O Professor Doutor Rogério Machado possui graduação em Física pelo Instituto de Física (1992), mestrado em Engenharia Metalúrgica pela Universidade de São Paulo (1998) e doutorado em Ciência e Engenharia dos Materiais pela Universidade Federal de São Carlos (2004). Atualmente é Professor Adjunto I do Departamento de Física da Universidade Federal de Sergipe. Tem experiência na área de Ciência e Engenharia de Materiais, com ênfase em Técnicas de Raios X aplicadas à caracterização e desenvolvimento de materiais, atuando principalmente nos seguintes temas: difratometria de raios x em geral, determinação de textura cristalográfica, determinação de tensões residuais, análise de tamanho e morfologia de cristalitos em materiais em geral (nanoparticulados, fármacos, etc), analise de materiais por fluorescência de raios X, desenvolvimento de metodologias de análise incluindo montagem de aplicativos analíticos e Técnicas de processamento de Imagens.

Especificações do equipamento

O equipamento Difratômetro de raios-X, Miniflex 600, foi fabricado pela Rigaku Corporation, situada em Tóquio, no Japão, e importado pela empresa paulista Dairix Equipamentos Analíticos Ltda, representante exclusiva no Brasil.
A assistência técnica e a garantia é de um ano a ser prestada pela representante Dairix Equipamentos que ficou, ainda, comprometida a dar um treinamento operacional aos usuários do difratômetro.
- Diafratrômetro de raios X, Sistema Miniflex 600, marca Rigaku
Miniflex 600 (wilth incident & receiving 2.5 soller slits & D/tex Ultra).
Gerador de raios X de 600 W (20-40 kV e 2-15 mA variáveis)
Tubo de raios X de cu, Foco Fino, de 1 kW
Goniômetro de tela – 2 teta
Fenda soller incidente e recepção de 2.5º, fenda DS 1.25 e 0.625º, fenda DHL 10mm, fenda SS 1.25º, fenda R$ 0.3 mm.
Filtro de Ni para K-beta
Detector e controlador de raio X
Beam stopper e fenda de espalhamento de 8mm
Suporte de amostra padrão
Software de controle do equipamentos
Software de processamento e análise de dados PDXL Basic
Dector de Alta Velocidade – D?tex ultra
Absorvedores (Cu e Al)
Computador
Banco de Dados COD
Trocador de calor (portátil)
Softwares: PDXL Qualitative (busca automática de fichas difratométricas) e PDXL Rietveld acadêmico.